电子产品老化测试怎么测？

电子产品在日常使用中会面临高温、湿度、光照等环境应力，这些因素会导致材料劣化、元件失效，影响产品可靠性和寿命。老化测试通过加速模拟这些应力，快速暴露潜在缺陷，帮助制造商剔除早期失效产品，确保出厂产品质量稳定。本文详细介绍电子产品老化测试的主要方法、操作步骤及相关标准，为您提供实用指导。

电子产品老化测试概述

电子产品老化测试（Burn-in Test）主要针对元器件、电路板或整机，模拟长期使用环境，加速潜在缺陷暴露。常见类型包括高温老化、湿热老化、功率老化等，目的是筛选早期失效，提高产品可靠性。

老化测试的目的

• 剔除潜在缺陷：暴露制造工艺或材料问题，如焊点虚焊、氧化等。
• 预测寿命：评估产品在正常条件下的耐久性。
• 提升可靠性：降低用户端故障率，确保符合质量标准。

常见电子产品老化测试方法

电子产品老化测试方法多样，根据产品类型（如芯片、PCB、整机）选择。以下是主流方法及操作步骤：

高温老化测试（Burn-in）

最常见方法，将产品置于高温环境并施加电应力。

• 操作步骤：
  1. 将样品置于老化箱或老化房中。
  2. 设置温度（如85°C~150°C，根据产品规格）。
  3. 通电运行（满载或额定功率），持续数百至1000小时。
  4. 定期监测电气参数（如电压、电流）。
  5. 测试结束后，进行功能验证。

湿热老化测试

模拟高温高湿环境，评估潮湿对产品的腐蚀影响。

• 典型条件：85°C/85%RH（双85测试），持续1000小时。
• 适用：封装芯片、PCB板，检测脱层、腐蚀等。
• 参考：PCT（高压加速老化）结合高压蒸汽。

温度循环老化测试

交替高低温循环，模拟热胀冷缩应力。

光老化测试（氙灯老化）

针对户外或暴露光照的产品，模拟阳光紫外线。

• 操作：使用氙弧灯箱，控制辐照强度、温度、湿度。
• 条件：全光谱模拟，结合喷淋模拟雨水。

老化测试相关标准

电子产品老化测试需遵循国际/国内标准，确保结果可比。

注意事项

• 通电时电压缓慢增加，避免瞬间脉冲损伤。
• 测试后及时测量参数，避免参数恢复。
• 结合产品规格定制条件，避免过度应力导致非真实失效。

总结

电子产品老化测试通过高温、湿热、温度循环和光老化等方法，结合IEC 60068、JESD22等标准，能有效筛选缺陷、预测寿命，提升产品可靠性。合理选择测试方法和条件，是确保电子产品耐用性的关键。

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